1. 도핑 (Doping)과 도펀트 (dopant)
이전 게시물을 통해 페르미 레벨 (Fermi level, EF)이 전도 대역 (Conduction band)에 가까워 질 수록
전자가 더 많은 반도체 (n형 반도체, n-type)가 되고,
페르미 레벨 (Fermi level, EF)이 가전자 대역 (Valence band)에 가까워 질 수록
정공이 더 많은 반도체 (p형 반도체, p-type)가 되는 것을 알았습니다.
이처럼 각 유형의 반도체를 만들기 위해 (페르미 레벨을 조절하기 위해) 도핑을 합니다.
불순물 (도펀트, dopant)은 반도체에 주입하는 것이고
도핑 (Doping)은 반도체에 불순물 (도펀트, dopant)을 주입하는 것 입니다.
이렇게 순수한 반도체인 진성 반도체 (intrinsic semiconductor) 에 도핑을 하면
외인성 반도체 (extrinsic semiconductor)가 됩니다.
2. 도핑의 과정
Si를 예로 들어 설명하겠습니다.
14족 원소인 Si는 13족 원소인 B, In 혹은 15족 원소인 P, As를 도핑 합니다.
ex 1)
만약 14족 원소인 Si 에 15족 원소인 P 또는 As를 도핑할 경우
최외각 전자가 5개인 P 또는 As 는 4개의 전자가 Si와 공유결합을 하고 1개의 자유전자가 만들어집니다.
그러므로 전자의 수가 정공의 수 보다 많은 n형 반도체(n-type)가 만들어 집니다.
또한 전자를 준다는 의미로 15족 원소인 P와 As를 도너(Doner)라고 합니다.
※ 중성자 였던 P또는 As는 1개의 전자가 나오므로써 +극의 fixed charge를 띕니다. ※
ex 2)
만약 14족 원소인 Si 에 13족 원소인 B 또는 In를 도핑할 경우
최외각 전자가 3개인 B 또는 In 는 3개의 전자가 Si와 공유결합을 하고 1개의 정공이 만들어집니다.
그러므로 정공의 수가 전자의 수 보다 많은 p형 반도체(p-type)가 만들어 집니다.
또한 전자를 가져간다는 의미로 13족 원소인 B와 In를 억셉터(Acceptor)라고 합니다.
※ 중성자 였던 B또는 In는 1개의 전자가 채위짐으로써 -극의 fixed charge를 띕니다. ※
도너를 도핑하였을 때 원자에 속박되어있던 전자의 결합을 끊고 자유전자가 생성되기 위해 필요한 에너지를
이온화 에너지 (ionization energy) 또는 활성화 에너지 (activation energy)라고 합니다.
3. Mass-action law
n형 반도체를 만들기 위해 도핑을 하면
도핑 전 진성 반도체의 캐리어 농도는 도너의 도핑농도보다 훨씬 작은 값이므로 무시할 수 있습니다.
$$ \therefore n_{0}=n_{i}+N_{d} \approx N_{d} $$
위와 같이 p형 반도체를 만들기 위해 도핑을 하면
도핑 전 진성 반도체의 캐리어 농도는 억셉터의 도핑농도보다 훨씬 작은 값이므로 무시할 수 있습니다.
$$ \therefore p_{0}=p_{i}+N_{A} \approx N_{A} $$
Mass-action law는
열평형 상태에서 n0와 p0의 곱이 항상 상수인 것을 뜻합니다.
$$ n_{0}p_{0}=N_{c}N_{v}e^{- \frac{E_{g}}{kT}}=n_{i}^{2} $$
※ 위 식 또한 볼츠만 근사가 가능할 때를 전제했습니다. ※
위 법칙을 사용하여 각 캐리어의 농도를 더 쉽게 구할 수 있습니다.
$$ \therefore p_{0}=n_{i}^2/n_{0} $$
$$ \therefore n_{0}=n_{i}^2/p_{0} $$
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